上海菁華 754自動波長紫外光度計 紫外可見分光光度計 配打印機

上海菁華 754自動波長紫外光度計 紫外可見分光光度計 配打印機詳細介紹：

儀器采用光柵C-T式單光束結構光路，光學系統由鹵鎢燈或氘燈發出的連續輻射經聚光鏡聚光后投向單色器入射狹縫，此狹縫正好處于聚光鏡及單色器內準直鏡的焦平面上，因此進入單色器的復合光通過平面反射鏡及準直鏡變成平行光射向色散元件光柵，光柵將入射的復合光通過衍射作用形成按照一定順序均勻排列的連續單色光譜后，射向球面反射鏡。由于儀器出射狹縫設置在該球面反射鏡的焦平面上，這樣，從光柵色散出來的單色光譜經球面反射鏡聚光后成象在出射狹縫上，出射狹縫選出指定帶寬的單色光通過聚光鏡聚光落在樣品室被測樣品中心，樣品吸收后透射的光射向光電池接收面。

上海菁華 754自動波長紫外光度計 紫外可見分光光度計 配打印機功能特性：

1200L/mm紫外光柵，C-T單色器結構。

樣品室可擴展至10cm樣品架。

自動設置波長，自動調0%T/ T，T/A的轉換。

具有自動修正波長誤差、光源自動切換等功能。

儀器具有光度、定量、標準曲線等功能

采用低雜散光、高分辨率的光柵型單光束光路結構，具有良好的穩定性，重現性，光度線性和準確的測量讀數。更小的光譜帶寬可滿足常規分析測試項目的要求。

采用優化設計和微處理技術，使儀器具有波長自動設置、光源自動切換位置、波長自動校正，具有自動調0%T和100T，氘燈和鎢燈開關自動控制等控制功能，以及T、A、C、F等測試方式。

主機具有光度測試功能（固定波長下測試吸光度或透射比值），具有定量測試功能，采用標準品對照法、標準系數法和線性回歸分析法（顯示屏顯示一元線性回歸方程及相關系數）來直接測定待測樣品的濃度，此外還可以存儲、調用、刪除線性回歸方程。

LCD數字顯示器可清晰顯示透射比、吸光度和濃度等參數，提高儀器的讀數準確性。

配有標準RS-232通訊接口的型號，可以連接計算機運行用戶應用軟件，具有光度測試（T、A）、定量測試（C、F）及時間掃描及光譜掃描等應用功能，可進行數據采集、保存和調用。

性能指標：

波長驅動：自動

波長范圍：190~1100nm

波長準確度：±0.5nm

波長重復性：0.2nm

光譜帶寬：4nm

透射比準確度：≤0.3%T

透射比重復性：0.1%T

透射比范圍：0~200%T

吸光度范圍：-0.4~4A

濃度顯示范圍：0~99999

雜散光：≤0.05%T

穩定性：±0.001A/h

噪聲：0.0005A

輸出接口：RS-232

回歸方程：具備

1.按1鍵儀器進入自檢狀態。

2.按0鍵儀器顯示屏顯示“Wait...”等待片刻即跳過自檢狀態，進入 后一次關機前狀態（非正常關機除外）。

3.不按“0”或“1”鍵，儀器進入預熱狀態，約二十分鐘后自動進行自檢。

注意事項：

1.自檢前應確認樣品室內樣品架定位正確，無物品擋住光路。

2.在自檢過程中切勿打開樣品室蓋，推拉樣品架。

3.自檢結束波長定位（546nm）后，在顯示“546.0nm ZERO...”過程中，因對全波長調0%T，故約需20秒左右，在此時段時間，請勿打開樣品室蓋。