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        涂層測厚儀MiniTest1100/2100/3100/4100

        <%=cpname%>
        產(chǎn)品價格: 0/人民幣 
        最后更新: 2012-08-12 10:49:00
        產(chǎn)品產(chǎn)地: 德國
        發(fā)貨地: 上海 (發(fā)貨期:當天內(nèi)發(fā)貨)
        供應(yīng)數(shù)量: 不限
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        瀏覽次數(shù): 335
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      1. 公司基本資料信息
      2.  
        產(chǎn)品詳細說明
        德國EPK(Elektrophysik)公司MiniTest1100/2100/3100/4100涂鍍層測厚儀特點:
        MiniTest1100/2100/3100/4100包括四種不同的主機,各自具有不同的數(shù)據(jù)處理功能;
        所有型號均可配所有探頭;
        可通過RS232接口連接MiniPrint打印機和計算機;
        可使用一片或二片標準箔校準。

        涂層測厚儀MiniTest1100

        MiniTest涂層測厚儀功能
        型號
        1100
        2100
        3100
        4100
        MINITEST 存儲的數(shù)據(jù)量
        應(yīng)用行數(shù)(根據(jù)不同探頭或測試條件而記憶的校準基礎(chǔ)數(shù)據(jù)數(shù))
        1
        1
        10
        99
        每個應(yīng)用行下的組(BATCH)數(shù)(對組內(nèi)數(shù)據(jù)自動統(tǒng)計,并可設(shè)寬容度極限值)
        -
        1
        10
        99
        可用各自的日期和時間標識特性的組數(shù)
        -
        1
        500
        500
        數(shù)據(jù)總量
        1
        10000
        10000
        10000
        MINITEST統(tǒng)計計算功能
        讀數(shù)的六種統(tǒng)計值x,s,n,max,min,kvar
        -
        讀數(shù)的八種統(tǒng)計值x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk
        -
        -
        組統(tǒng)計值六種x,s,n,max,min,kvar
        -
        -
        組統(tǒng)計值八種x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk
        -
        -
        存儲顯示每一個應(yīng)用行下的所有組內(nèi)數(shù)據(jù)
        -
        -
        -
        分組打印以上顯示和存儲的數(shù)據(jù)和統(tǒng)計值
        -
        -
        顯示并打印測量值、打印的日期和時間
        -
        其他功能
        透過涂層進行校準(CTC)
        -
        在粗糙表面上作平均零校準
        利用計算機進行基礎(chǔ)校準
        補償一個常數(shù)(Offset)
        -
        -
        外設(shè)的讀值傳輸存儲功能
        -
        保護并鎖定校準設(shè)置
        更換電池是存儲數(shù)值
        設(shè)置極限值
        -
        -
        公英制轉(zhuǎn)換
        連續(xù)測量模式快速測量,通過模擬柱識別最大最小值
        -
        -
        連續(xù)測量模式中測量穩(wěn)定后顯示讀數(shù)
        -
        -
        浮點和定點方式數(shù)據(jù)傳送
        組內(nèi)單值延遲顯示
        -
        連續(xù)測量模式中顯示最小值

        MiniTest涂層測厚儀可選探頭參數(shù)(探頭圖示)
        所有探頭都可配合任一主機使用。在選擇最適用的探頭時需要考慮覆層厚度,基體材料以及基體的形狀、厚度、大小、幾何尺寸等因素。
        F型探頭:測量鋼鐵基體上的非磁性覆層
        N型探頭:測量有色金屬基體上的絕緣覆層
        FN兩用探頭:同時具備F型和N性探頭的功能
        探頭
        量程
        低端
        分辨率
        誤差
        最小曲率
        半徑(凸/凹)
        最小測量
        區(qū)域直徑
        最小基
        體厚度
        探頭尺寸


        應(yīng)
        F05
        0-500μm
        0.1μm
        ±(1%±0.7μm)
        1/5mm
        3mm
        0.2mm
        φ15x62mm
        F1.6
        0-1600μm
        0.1μm
        ±(1%±1μm)
        1.5/10mm
        5mm
        0.5mm
        φ15x62mm
        F1.6/90
        0-1600μm
        0.1μm
        ±(1%±1μm)
        平面/6mm
        5mm
        0.5mm
        φ8x8x170mm
        F3
        0-3000μm
        0.2μm
        ±(1%±1μm)
        1.5/10mm
        5mm
        0.5mm
        φ15x62mm
        F10
        0-10mm
        5μm
        ±(1%±10μm)
        5/16mm
        20mm
        1mm
        φ25x46mm
        F20
        0-20mm
        10μm
        ±(1%±10μm)
        10/30mm
        40mm
        2mm
        φ40x66mm
        F50
        0-50mm
        10μm
        ±(3%±50μm)
        50/200mm
        300mm
        2mm
        φ45x70mm


        FN1.6
        0-1600μm
        0.1μm
        ±(1%±1μm)
        1.5/10mm
        5mm
        F0.5mm
        N50μm
        φ15x62mm
        FN1.6P
        0-1600μm
        0.1μm
        ±(1%±1μm)
        平面
        30mm
        F0.5mm
        N50μm
        φ21x89mm
        FN2
        0-2000μm
        0.2μm
        ±(1%±1μm)
        1.5/10mm
        5mm
        F0.5mm
        N50μm
        φ15x62mm



        N02
        0-200μm
        0.1μm
        ±(1%±0.5μm)
        1/10mm
        2mm
        50μm
        φ16x70mm
        N.08Cr
        0-80μm
        0.1μm
        ±(1%±1μm)
        2.5mm
        2mm
        100μm
        φ15x62mm
        N1.6
        0-1600μm
        0.1μm
        ±(1%±1μm)
        1.5/10mm
        2mm
        50μm
        φ15x62mm
        N1.6/90
        0-1600μm
        0.1μm
        ±(1%±1μm)
        平面/10mm
        5mm
        50μm
        φ13x13x170mm
        N10
        0-10mm
        10μm
        ±(1%±25μm)
        25/100mm
        50mm
        50μm
        φ60x50mm
        N20
        0-20mm
        10μm
        ±(1%±50μm)
        25/100mm
        70mm
        50μm
        φ65x75mm
        N100
        0-100mm
        100μm
        ±(1%±0.3mm)
        100mm/平面
        200mm
        50μm
        φ126x155mm
        CN02
        10-200μm
        0.2μm
        ±(1%±1μm)
        平面
        7mm
        無限制
        φ17x80mm
        注: F1.6/90、F2/90、N1.6/90、N2/90為直角探頭,用于管內(nèi)測量。
        N.08Cr適合銅上鉻,F(xiàn)N2也適合銅上鉻。
        CN02用于絕緣體上的有色金屬覆層。

        MiniTest涂層測厚儀探頭圖示
        FN1.6
        0~1600μm,φ5mm
        兩用測頭,可測銅鐵基體上的非磁性覆層與有色金屬 基體上的絕緣覆層
        量程低端分辨率很高(0.1μm)

        FN1.6P
        0~1600μm,φ30mm
        兩用測頭, 特別適合測粉末狀的覆層厚度


        F05
        0~500μm,φ3mm
        磁性測頭,適于測量細小鋼鐵物體的薄覆層,如金屬鍍層,氧化層等
        量程低端分辨宰很高(0.1μm)

        F1.6
        0~1600μm,φ5mm
        磁性測頭
        量程低端分辨率很高(0.1μm)

        F3
        0~3000μm,φ5mm
        磁性測頭
        可用于較厚的覆層

        F1.6/90
        0~1600μm,φ5mm
        90度磁性測頭
        尤其適合于在管內(nèi)壁測量
        量程低端分辨率很高(0.1μm)

        F10
        0~10mm,φ20mm
        適合測量鋼結(jié)構(gòu)(如水箱、管道等)上的防腐覆層,如玻璃、塑膠、混凝土等


        F20
        0~20mm,φ40mm
        適合測量鋼結(jié)構(gòu)(如水箱、管道等)上的防腐覆層,如玻璃、塑膠、混凝土等

        F50
        0~50mm,φ300mm
        適合測量鋼結(jié)構(gòu)(如水箱、管道等)上的防腐覆層的隔音覆層

        N02
        0~200μm,φ2mm
        非磁性測頭,尤其適合測量有色金屬基體上的氧化層等很薄的絕緣覆層
        量程低端分辨率很高(0.1μm)

        N0.8Cr
        0~80μm,φ2mm
        適用于測量銅、鋁、黃銅上的極薄鍍鉻層

        N1.6
        0~1600μm,φ2mm
        非磁性測頭,適于測量有色金屬基體上的較薄的絕緣覆層
        量程低端分辨率很高(0.1μm)

        N1.6/90
        0~1600μm,φ5mm
        磁性測頭,適于測量較薄的絕緣覆層
        尤其適合在管內(nèi)壁測量
        量程低端分辨率很高(0.1μm)

        N10
        0~10mm,φ50mm
        非磁性測頭,適于測量較厚的絕緣覆層,如橡膠玻璃等

        N20
        0~20mm,φ70mm
        非磁性測頭,適于測量較厚的絕緣覆層,如橡膠玻璃等

        N100
        0~100mm,200mm
        非磁性測頭,適于測量較厚的絕緣覆層,如橡膠玻璃等
        CN02
        10~200μm,φ7mm
        用于測量絕緣材料上的有色金屬覆層,如覆銅板

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