日本 JIMA分辨率測試卡

日本 JIMA分辨率測試卡

產品銷售編號：20220805-04

產品銷售廠家：固安縣雙玉儀器有限公司

X射線波長很短不可見，但它照射到某些化合物時，可使物質發生熒光(可見光或紫外線)，熒光的強弱與X射線量成正比。這種作用是X射線應用于透是的基礎，利用這種熒光作用可制成熒光屏，用作透是時觀察X射線通過人體組織的影像，也可制成增感屏，用作攝影時增強膠片的感光量。

芯片截面

L/S寬度：3，4，5，6，7，8，9，10，15，20，25，30，35，40，45，50μum

16個Au圖被放置在8x8mm的Si芯片上。

硅芯片固定在40x30x3mm鋁上。

16個Au圖被放置在8x8mm的Si芯片上。

規格

外徑：W40xD30xT3毫米   硅基芯片尺寸8x8x0.2mm

空間頻率

原意為亮度在空間中呈現正弦波變化的單色光,在單位長度內亮度變化的周期數即為其空間頻率。在成像系統定義為空間分辨率,即單位長度內的線對數,單位是LP/mm或LP/cm。有時候在成像系統中將空間分辨率簡稱為分辨率。

鉛當量

用鉛作為基準物質時,以鉛的厚度來表示的衰減當量。更多線對卡的相關產品的詳細介紹請咨詢固安縣雙玉儀器有限公司。

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