日立臺式X熒光鍍層測厚儀X-Strata920

一、儀器名稱：臺式X熒光鍍層測厚儀X-Strata920

二、儀器型號：X-Strata920

三、生產廠家：日立分析儀器

四、產地：德國

山東總代：青島浩正科儀智能技術有限公司 hzzn-qd 15-2。53，20。13-71

五、儀器簡單介紹

X-Strata920XRF ，鍍層測厚儀，高精確度，最少浪費

若不足一微米在您的鍍層測量業務成敗中舉足輕重，則請選擇X-Strata920。

您可選擇比例計數器或硅漂移探測器（SDD），確保擁有正確配置。

如果您從事電子或金屬表面處理，我們可提供適合您業務的解決方案。X-Strata920提供多種配置，可分析單層和多層鍍層（包括合金層）。

我們的內部應用zhuan家對X-Strata920進行了優化，確保您獲得可靠、可重復結果以滿足百種應用，包括：PCB表面處理、連接器鍍層、耐腐蝕性處理、裝飾表面處理、耐磨損處理和耐高溫處理等。

山東總代：青島浩正科儀智能技術有限公司 hzzn-qd 15-2。53，20。13-71

六、 儀器選型

半自動固定樣品臺：

?Z軸自動控制，移動行程：43mm (1.7")，XY軸手動控制

?樣品臺高度固定，測量大樣品高度33mm

?儀器外形尺寸（寬×深×高）：407×770×305mm（不含電腦和顯示器）

半自動加深樣品臺

?Z軸自動控制，移動行程：43mm (1.7")，XY軸手動控制

?樣品倉抽屜式設計，4個位置上下可調，每格高度25.4mm

?大樣品高度160mm

?樣品倉內部尺寸（寬×深×高）：279×508×152mm

?儀器外形尺寸（寬×深×高）：407×770×400mm(不含電腦和顯示器)

?自定義樣品臺：依據客戶要求提供更高的樣品臺，滿足高度大于160mm的樣品測量，倉內抽屜式設計，多個位置上下可調，每格高度25.4mm

全自動樣品臺

?Z軸自動控制，移動行程：43mm (1.7")，XY軸自動控制

?可提供對樣品的自動和編程控制，多點測量

?鼠標控制樣品臺移動，精確地定位樣品測量點

?測量模式：隨機模式、線性模式、梯度模式、掃描模式、重復測量模式

?樣品臺移動行程：178×178mm

?樣品臺尺寸：寬610×深560mm

?大樣品高度33mm

?儀器外形尺寸：寬610×深1037×高375mm(不含電腦和顯示器)

多種型號規格的準直器

圓形0.2mm(8mil)

矩形0.05*0.05mm(2*2mil)

矩形0.05*0.25mm(2*10mil)

?單準直器組件；

?多準直器自動控制組件：最多可同時裝配6種規格的準直器；

?圓形、矩形多種規格尺寸任選（紅色常用）

七、儀器特點

?測量元素范圍：鈦Ti²²---鈾U⁹²；

?測量5層（4層鍍層+底材層）鍍層，同時分析15種元素，自動修正X射線重疊譜線；

?測量精度高、穩定性好，測量結果精確至μin；

?快速無損測量，測量時間短，10秒內得出測量結果；

?可分析固體、溶液；定性、半定量和定量分析；

?進行貴金屬檢測，如Au karat評價；

?材料鑒別和分類檢測，材料和合金元素分析，元素光譜定性分析；

?強大的數據統計、處理功能：平均值、標準偏差、相對標準偏差、大值、最小值、數據變動范圍、數據編號、CP、CPK、控制上限圖、控制下限圖，數據分組、X-bar/R圖表、直方圖；

?結果輸出：直接打印或一鍵導出到PDF、Excel文件；報告包含數據、圖像、統計圖表、ke戶信息等；

?測量位置預覽功能；高分辨率彩色CCD樣品觀察系統，標準光學放大倍數為30倍；

?激光對焦和自動對焦功能；單擊鼠標，Z軸自動掃描，鐳射聚焦；

?擁有NIST認證的標準片；

?提供全球服務及技術支持。

X-Strata920三步即可獲得測量結果

1 將產品放置在樣品臺上

?無損分析，無需樣品制備

?開槽式樣品倉便于放置產品

?超大樣品臺便于大面積產品（如：PCB）測量

?配備了門開閉傳感器，增強了安全性

2 一鍵完成視頻聚焦

?一鍵自動鐳射聚焦，避免人為操作誤差

?標配固定焦距12.7mm，選配變焦

?高分辨率、高放大倍率的彩色數碼影像裝置，畫面清晰、測試點精準定位；放大倍數：30倍（標配），50倍（選配）

?自動臺：利用可編程XY樣品臺和Z軸實現單次或多次分析操作

?簡單快速的多點分析

3 一鍵完成測量

?幾秒內顯示結果

?保存、打印或傳輸結果

?測試結果可一鍵導出PDF（標配）、Excel（選配）

?使用預置和客戶自定義的報告模板

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