深圳EMI測(cè)試儀器KH3900系列

EMI測(cè)試波形即結(jié)果與檢測(cè)機(jī)構(gòu)的測(cè)試波形誤差即差異的調(diào)整：

首先應(yīng)分析確定造成測(cè)試誤差的原因。設(shè)備測(cè)試出現(xiàn)差異后，操作人員需按以下方式進(jìn)行調(diào)試設(shè)備；

注：當(dāng)設(shè)備偶爾出現(xiàn)亂碼現(xiàn)象時(shí)，會(huì)出現(xiàn)掃描速度很慢以及掃描曲線很低時(shí)或沒(méi)掃描線即可能是由亂碼現(xiàn)象引起，這時(shí)可進(jìn)行以下操作；

一、 打開(kāi)測(cè)試界面 → 點(diǎn)擊右鍵進(jìn)入點(diǎn)頻測(cè)試 → 運(yùn)行幾秒后停止 → 返回測(cè)試界面 →                      正常運(yùn)行。

二、

   1.進(jìn)入我的電腦 → D盤(pán) → （設(shè)備型號(hào)及編號(hào)的后兩位）3935--** → Debug → sysdata → param.bin(刪除）

   2.進(jìn)入測(cè)試界面→設(shè)置→測(cè)量設(shè)置→標(biāo)準(zhǔn)線置（新建－參照下表格輸入確認(rèn)保存→傳導(dǎo) 因子新建－參照下表   格輸入確認(rèn)保存→確認(rèn)→ 打開(kāi)設(shè)置選擇標(biāo)準(zhǔn)、傳導(dǎo)因子→ 正常測(cè)試。

傳導(dǎo)因子

首先必需自己做一個(gè)標(biāo)準(zhǔn)樣機(jī)，(否則后面的工作無(wú)法進(jìn)行),拿標(biāo)準(zhǔn)樣機(jī)去檢測(cè)試機(jī)構(gòu)進(jìn)行冷機(jī)測(cè)試一次，然后工作半小時(shí)后熱機(jī)在測(cè)試一次，波形誤差必需在2dB的才可做標(biāo)準(zhǔn)樣機(jī)，將圖紙和樣機(jī)保存起來(lái)，如發(fā)現(xiàn)測(cè)試不準(zhǔn)確，就可以用標(biāo)準(zhǔn)樣機(jī)進(jìn)行測(cè)試對(duì)比了，判斷測(cè)試系統(tǒng)和測(cè)試環(huán)境是否正常。

下面我們一步步確認(rèn)出現(xiàn)差異的原因：

1：確認(rèn)主機(jī)是否正常：首先，按主機(jī)測(cè)試界面右側(cè)的校準(zhǔn)，看左下側(cè)的校準(zhǔn)數(shù)是否正確。(2.10.000-----2.15.000每臺(tái)機(jī)器的數(shù)值不一樣，在這個(gè)范圍就證明主機(jī)是運(yùn)行正常的)

2：確認(rèn)測(cè)試環(huán)境既背景是否正常，將主機(jī)和LISN通過(guò)信號(hào)線連接好，測(cè)試一次，這時(shí)界面的測(cè)試波形是電源線上的干擾通過(guò)變壓器和LISN 的濾波后采樣的信號(hào)應(yīng)在30DB以下，就說(shuō)明電源背景正常。如超過(guò)30DB說(shuō)明電源干擾太大，對(duì)電源要進(jìn)行重新接線濾波。直到小于30DB為止。

3：將LISN上，輸出插座上，接一條2米長(zhǎng)的電源線，線上不要接任何負(fù)載。進(jìn)行測(cè)試，這時(shí)的測(cè)試背景就是空間的干擾通過(guò)電源線偶合進(jìn)來(lái)的，應(yīng)底于35dB，如太高會(huì)影響測(cè)試結(jié)果。應(yīng)注意和解決這個(gè)問(wèn)題后在進(jìn)行測(cè)試。

（3）：最后用標(biāo)準(zhǔn)樣機(jī)進(jìn)行測(cè)試，如標(biāo)準(zhǔn)樣機(jī)測(cè)試誤差在3個(gè)DB內(nèi)就屬正常，

4：如果以上檢測(cè)都在正常范圍內(nèi)就說(shuō)明正個(gè)測(cè)試系統(tǒng)和環(huán)境是正常的，這時(shí)就不要懷疑測(cè)試設(shè)備和環(huán)境的問(wèn)題了，

注：（因我們將這套測(cè)試設(shè)備拿到檢測(cè)試機(jī)構(gòu)，如華通威，信華,信測(cè),北南,電子質(zhì)量檢測(cè)大廈，深圳市計(jì)量質(zhì)量檢測(cè)研究所和北京的國(guó)家EMC測(cè)試試驗(yàn)室，去做測(cè)試對(duì)比，用小功率和大功率產(chǎn)品及標(biāo)準(zhǔn)信號(hào)源進(jìn)行測(cè)試后和檢測(cè)機(jī)構(gòu)的測(cè)試設(shè)備所測(cè)試數(shù)據(jù)進(jìn)行對(duì)比，標(biāo)準(zhǔn)信號(hào)源的測(cè)試誤差最大在1.6dB，誤差在國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)范圍內(nèi)。所以輕易不要懷疑測(cè)試設(shè)備的問(wèn)題了。）

5：這時(shí)就應(yīng)當(dāng)注意以下問(wèn)題；

1：LISN到樣機(jī)的連接線，（有的連接線一端接的是插座）；這條連接線的長(zhǎng)短和線芯的及插座的質(zhì)量，的不同，對(duì)測(cè)試波形和數(shù)值結(jié)果影響很大，最好用同一條線，（因在檢測(cè)試機(jī)構(gòu)我們做了個(gè)試驗(yàn)，用不同的線和插座，測(cè)試的誤差有5個(gè)DB的差異，甚至波形都不一樣，）

2：特別注意LISN的接地一定要和檢測(cè)機(jī)構(gòu)的接地方式相同否則對(duì)后端的波形有影響

3：樣機(jī)的擺放位置，一定要保持相同，不同的擺放位置也會(huì)造成很大誤差，這些我們都在檢測(cè)機(jī)構(gòu)做過(guò)試驗(yàn)，

4：：樣機(jī)本身的不穩(wěn)定性，也會(huì)造成每次測(cè)試結(jié)果不一樣，（我們?cè)?/span>8款不同的電源適配器，分別去了北南，華通威，信測(cè)，三家EMC檢測(cè)試機(jī)構(gòu)進(jìn)行測(cè)試對(duì)比，在測(cè)試前詳細(xì)記錄了測(cè)試設(shè)備，的型號(hào)LISN型號(hào)和樣機(jī)的電源電壓，擺放位置，連接線方式，等，結(jié)果發(fā)現(xiàn)8個(gè)樣機(jī)里面，只有3個(gè)樣機(jī)誤差在3DB，其它樣機(jī)誤差都在5-6DB的有的更大一些，我們也和檢測(cè)試機(jī)構(gòu)的測(cè)試主管討論這個(gè)問(wèn)題，主要原因：一：主要原因還是樣機(jī)本身重復(fù)性差，二：是測(cè)試環(huán)境雖然都是符合國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)的，但多少有點(diǎn)差異。

（主要原因：1：測(cè)試系統(tǒng)有問(wèn)題。（主機(jī)，LISN，等。）

2：測(cè)試環(huán)境背景有問(wèn)題。（電源背景和空間環(huán)境背景）

3：LISN到樣機(jī)的連線，

4：樣機(jī)的擺放位置。

5：樣機(jī)本身的波形重復(fù)性和穩(wěn)定性太差。

6：檢測(cè)試機(jī)構(gòu)的這次測(cè)試有問(wèn)題。（我們經(jīng)常用同一個(gè)質(zhì)量和波形很穩(wěn)定的樣機(jī)去檢測(cè)機(jī)構(gòu)進(jìn)行測(cè)試對(duì)比，經(jīng)常發(fā)現(xiàn)同一個(gè)檢測(cè)試機(jī)構(gòu)不同時(shí)間測(cè)試的波形誤差很大，檢測(cè)試機(jī)構(gòu)有時(shí)在調(diào)機(jī)和連線上，上次的和這次不同也會(huì)出現(xiàn)測(cè)試波形誤差很大。

7.我們用同樣的標(biāo)準(zhǔn)樣機(jī),去不同的檢測(cè)機(jī)構(gòu),經(jīng)過(guò)反復(fù)對(duì)比測(cè)試,檢測(cè)試機(jī)構(gòu),現(xiàn)在的誤差在3-4DB左右,注意我們用的是標(biāo)準(zhǔn)樣機(jī),就是冷機(jī)熱機(jī)本身很穩(wěn)定的機(jī)器,