二次離子質譜儀測試SIMS測試SIMS檢測報告SIMS測試方法

二次離子質譜儀/SIMS測試介紹

測試內容

材料成分鑒定及相結構

測試方法

對薄膜，材料表面、界面的元素、分子等結構進行分析；

分析深度:表面1-10nm，剖面分析：2-20nm，檢出限：1012-1016at/cm3

樣品要求

非水份或不含水份及揮發性物質的固體樣品，粉末樣品以工程師確認結果而定。

樣品尺寸：Max. 4*4*3.5cm

測試周期

7個工作日

STT檢測擁有一支高學歷高素質專家團隊，具備豐富的環境可靠性試驗工程技術、失效分析技術、理化檢測技術研究及實踐經驗，嚴格按照CNAS認可委的要求建設實驗室，并依據ISO/IEC17025：2006進行實驗室管理，遵循“公正、科學、準確、高效”的準則，依照IEC、ISO、IEEE、MIL、ASTM、J-STD、GJB、GB、SJ等國際、國內標準，為企業提供專業檢測技術服務。

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