低溫存儲壽命試驗高低溫試驗低溫存放試驗低溫檢測報告

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最后更新：	2018-04-11 09:37:34
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公司基本資料信息

深圳市賽特檢測有限公司
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公司名稱：深圳市賽特檢測有限公司（STT）

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扣扣號：3492539620

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公司地址：深圳市龍華區(qū)新湖路28號

低溫存儲壽命試驗

實驗目的

為了考核低溫對試樣的影響，確定試樣在低溫條件下存儲的適應性。

實驗設備

該實驗一般用到高低溫試驗箱。

實驗原理
低溫條件下電子元器件的電參數(shù)會發(fā)生變化、材料變脆及其材料冷縮產生應力等。使電子元器件處于低溫環(huán)境下一定時間,考核電子元器件的電參數(shù)是否發(fā)生變化、材料是否變脆、材料冷縮產生應力有多大等，從而確定電子元器件抗低溫的能力。

實驗參考標準
JESD22-A119、IEC60068-2-1、GJB1864A-2011

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